拱形法最初由美國海軍研究試驗(yàn)所（Naval Research Laboratory）設(shè)計(jì)，它能在較寬的頻率范圍內(nèi)微波吸波材料進(jìn)行快速、可復(fù)現(xiàn)性和非破壞性測試。拱形法非常簡單直觀。接收接收和發(fā)射天線可以在圓弧上獨(dú)立地移動且均指向圓心，安裝有金屬板的測試臺可以上下移動，測試臺平面與圓弧所在平面垂直。發(fā)射天線對吸波材料產(chǎn)生激勵，其反射信號被接收天線拾取。再用理想的導(dǎo)電板取代吸波材料，測得其反射信號，最后將兩次測得的反射信號相對比，就可以得出吸波材料的反射系數(shù)。這種方法理論上可以運(yùn)用任何頻率，但通常只在1GHz以上的頻段，1GHz以后則不宜采用，因測試中待測試樣應(yīng)在遠(yuǎn)場區(qū)，因而在低頻段所要求弧形半徑額待測試樣會很大。因此，我們研制了半徑可以調(diào)節(jié)的L型掃描裝置，通過調(diào)節(jié)半徑可以滿足更多頻段的測試需求，同時(shí)減少暗室靜區(qū)的影響。