拱形法最初由美國(guó)海軍研究試驗(yàn)所（Naval Research Laboratory）設(shè)計(jì)，它能在較寬的頻率范圍內(nèi)微波吸波材料進(jìn)行快速、可復(fù)現(xiàn)性和非破壞性測(cè)試。拱形法非常簡(jiǎn)單直觀。接收接收和發(fā)射天線(xiàn)可以在圓弧上獨(dú)立地移動(dòng)且均指向圓心，安裝有金屬板的測(cè)試臺(tái)可以上下移動(dòng)，測(cè)試臺(tái)平面與圓弧所在平面垂直。發(fā)射天線(xiàn)對(duì)吸波材料產(chǎn)生激勵(lì)，其反射信號(hào)被接收天線(xiàn)拾取。再用理想的導(dǎo)電板取代吸波材料，測(cè)得其反射信號(hào)，最后將兩次測(cè)得的反射信號(hào)相對(duì)比，就可以得出吸波材料的反射系數(shù)。這種方法理論上可以運(yùn)用任何頻率，但通常只在1GHz以上的頻段，1GHz以后則不宜采用，因測(cè)試中待測(cè)試樣應(yīng)在遠(yuǎn)場(chǎng)區(qū)，因而在低頻段所要求弧形半徑額待測(cè)試樣會(huì)很大。因此，我們研制了半徑可以調(diào)節(jié)的L型掃描裝置，通過(guò)調(diào)節(jié)半徑可以滿(mǎn)足更多頻段的測(cè)試需求，同時(shí)減少暗室靜區(qū)的影響。